Образование двухзарядных отрицательных ионов в условиях резонансного захвата электронов молекулами фторфуллеренов

С помощью масс-спектрометрии резонансного захвата электронов обнаружены и исследованы двухзарядные отрицательные ионы, возникающие при взаимодействии контролируемых по энергии электронов с изолированными молекулами фторпроизводных фуллерена C$_{60}$F$_{n}$ ($n = 36$, 48). Измерена зависимость интенсивности образования двухзарядных отрицательных ионов фторфуллеренов от энергии присоединяемых электронов. Разработана оригинальная методика оценки абсолютного сечения образования двухзарядных отрицательных ионов на основе экспериментально измеримых данных, не требующая привлечения дополнительных калибровочных величин. Для наиболее интенсивно образующихся ионов оценочные значения абсолютного сечения образования составили $\sim1.1\cdot10^{-24}$ м$^2$ для C$_{60}$F$^{2-}_{36}$ и $\sim1.5\cdot10^{-24}$ м$^2$ для C$_{60}$F$^{2-}_{48}$ при энергиях максимума их эффективного выхода $2.0$ и $1.6$ эВ соответственно.