Письма в Журнал экспериментальной и теоретической физики
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Импакт-фактор

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS



Письма в ЖЭТФ:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти






Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация


Письма в Журнал экспериментальной и теоретической физики, 2002, том 76, выпуск 9, страницы 665–668 (Mi jetpl2972)  

КОНДЕНСИРОВАННОЕ СОСТОЯНИЕ

Steps on current-voltage characteristics of a silicon quantum dot covered by natural oxide

S. V. Vyshenskiia, U. Zeitlerb, R. J. Haugb

a Nuclear Physics Institute, Moscow State University
b Institut für Festkörperphysik, Universität Hannover
Список литературы:
Аннотация: Considering a double-barrier structure formed by a silicon quantum dot covered by natural oxide with two metallic terminals, we derive simple conditions for a step-like voltage-current curve. Due to standard chemical properties, doping phosphorus atoms located in a certain domain of the dot form geometrically parallel current channels. The height of the current step typically equals to (1.2 pA)$N$, where $N=0,1,2,3\ldots$ is the number of doping atoms inside the domain, and only negligibly depends on the actual position of the dopants. The found conditions are feasible in experimentally available structures.
Поступила в редакцию: 03.10.2002
Англоязычная версия:
Journal of Experimental and Theoretical Physics Letters, 2002, Volume 76, Issue 9, Pages 568–571
DOI: https://doi.org/10.1134/1.1538291
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
PACS: 73.23.Ps, 73.23.Hk
Язык публикации: английский
Образец цитирования: S. V. Vyshenskii, U. Zeitler, R. J. Haug, “Steps on current-voltage characteristics of a silicon quantum dot covered by natural oxide”, Письма в ЖЭТФ, 76:9 (2002), 665–668; JETP Letters, 76:9 (2002), 568–571
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{VysZeiHau02}
\by S.~V.~Vyshenskii, U.~Zeitler, R.~J.~Haug
\paper Steps on current-voltage characteristics of a silicon quantum dot covered by natural oxide
\jour Письма в ЖЭТФ
\yr 2002
\vol 76
\issue 9
\pages 665--668
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/jetpl2972}
\transl
\jour JETP Letters
\yr 2002
\vol 76
\issue 9
\pages 568--571
\crossref{https://doi.org/10.1134/1.1538291}
\scopus{https://www.scopus.com/record/display.url?origin=inward&eid=2-s2.0-0038891576}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/jetpl2972
  • https://www.mathnet.ru/rus/jetpl/v76/i9/p665
  • Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    Письма в Журнал экспериментальной и теоретической физики Pis'ma v Zhurnal Иksperimental'noi i Teoreticheskoi Fiziki
    Статистика просмотров:
    Страница аннотации:169
    PDF полного текста:54
    Список литературы:42
     
      Обратная связь:
     Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2024