Письма в Журнал экспериментальной и теоретической физики
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Импакт-фактор

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS


Письма в ЖЭТФ:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти




Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация

Письма в Журнал экспериментальной и теоретической физики, 2002, том 76, выпуск 5, страницы 337–340 (Mi jetpl2910)  
Эта публикация цитируется в 7 научных статьях (всего в 7 статьях)

АТОМЫ, СПЕКТРЫ, ИЗЛУЧЕНИЯ

Влияние многократного рассеяния на ширину линии параметрического рентгеновского излучения релятивистских электронов в кристалле

Н. Ф. Шульгаa, М. Табризиb

a Институт теоретической физики Национального научного центра "Харьковский физико-технический институт"
b Харьковский национальный университет
PDF полного текста (173 kB) Список цитирования (7)
Список литературы:
PDF
HTML
Аннотация: Показана значительная роль многократного рассеяния в формировании ширины линии параметрического рентгеновского излучения «назад» релятивистских электронов в кристалле. Предложена теория ширины линии этого излучения, основанная на методе функционального интегрирования. Показано, что задача о влиянии многократного рассеяния на параметрическое рентгеновское излучение аналогична задаче об эффекте Ландау–Померанчука–Мигдала влияния многократного рассеяния на тормозное излучение электронов большой энергии в аморфной среде.
Поступила в редакцию: 05.08.2002
Англоязычная версия:
Journal of Experimental and Theoretical Physics Letters, 2002, Volume 76, Issue 5, Pages 279–282
DOI: https://doi.org/10.1134/1.1520621
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
PACS: 11.80.La, 31.15.Kb, 32.70.Jz, 33.70.Jg
Образец цитирования: Н. Ф. Шульга, М. Табризи, “Влияние многократного рассеяния на ширину линии параметрического рентгеновского излучения релятивистских электронов в кристалле”, Письма в ЖЭТФ, 76:5 (2002), 337–340; JETP Letters, 76:5 (2002), 279–282
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{ShuTab02}
\by Н.~Ф.~Шульга, М.~Табризи
\paper Влияние многократного рассеяния на ширину линии параметрического рентгеновского излучения релятивистских электронов в кристалле
\jour Письма в ЖЭТФ
\yr 2002
\vol 76
\issue 5
\pages 337--340
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/jetpl2910}
\transl
\jour JETP Letters
\yr 2002
\vol 76
\issue 5
\pages 279--282
\crossref{https://doi.org/10.1134/1.1520621}
\scopus{https://www.scopus.com/record/display.url?origin=inward&eid=2-s2.0-0012472388}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/jetpl2910
  • https://www.mathnet.ru/rus/jetpl/v76/i5/p337
    • Эта публикация цитируется в следующих 7 статьяx:
    Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    		Письма в Журнал экспериментальной и теоретической физики Pis'ma v Zhurnal Иksperimental'noi i Teoreticheskoi Fiziki
    Статистика просмотров:
    Страница аннотации:346
    PDF полного текста:69
    Список литературы:34
     
      Обратная связь:
    		  Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2024