|
Письма в Журнал экспериментальной и теоретической физики, 2002, том 76, выпуск 5, страницы 337–340
(Mi jetpl2910)
|
|
|
|
Эта публикация цитируется в 7 научных статьях (всего в 7 статьях)
АТОМЫ, СПЕКТРЫ, ИЗЛУЧЕНИЯ
Влияние многократного рассеяния на ширину линии параметрического рентгеновского излучения релятивистских электронов в кристалле
Н. Ф. Шульгаa, М. Табризиb a Институт теоретической физики Национального
научного центра "Харьковский физико-технический институт"
b Харьковский национальный университет
Аннотация:
Показана значительная роль многократного рассеяния в формировании ширины линии параметрического рентгеновского излучения «назад» релятивистских электронов в кристалле. Предложена теория ширины линии этого излучения, основанная на методе функционального интегрирования. Показано, что задача о влиянии многократного рассеяния на параметрическое рентгеновское излучение аналогична задаче об эффекте Ландау–Померанчука–Мигдала влияния многократного рассеяния на тормозное излучение электронов большой энергии в аморфной среде.
Поступила в редакцию: 05.08.2002
Образец цитирования:
Н. Ф. Шульга, М. Табризи, “Влияние многократного рассеяния на ширину линии параметрического рентгеновского излучения релятивистских электронов в кристалле”, Письма в ЖЭТФ, 76:5 (2002), 337–340; JETP Letters, 76:5 (2002), 279–282
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/jetpl2910 https://www.mathnet.ru/rus/jetpl/v76/i5/p337
|
Статистика просмотров: |
Страница аннотации: | 334 | PDF полного текста: | 63 | Список литературы: | 25 |
|