Исследование влияния резонансного окружения (мёссбауэровский экран) на наблюдаемое значение периода полураспада изомера ${}^{119m1}$Sn ($E=23.8$ кэВ, $T_{1/2}\sim18$ нс)

В целях исследования влияния резонансного окружения на $\gamma$-распад возбужденных состояний ядер методом ($e-\gamma$)-совпадений измерен период полураспада изомера ${}^{119m1}$Sn ($E=23.8$ кэВ, $T_{1/2}\sim18$ нс), получающегося из распада состояния ${}^{119m2}$Sn ($E\sim89$ кэВ, $T_{1/2}\sim293$ дня), на образцах, состоявших из смеси оксидов олова, содержащих стабильные ядра ${}^{119}$Sn и радиоактивные ядра ${}^{119m2}$Sn с различными значениями отношения ${}^{119}\mathrm{SnO}_2/{}^{119m2}\mathrm{SnO}_2$. Для образцов, где это отношение составляло $6.2\cdot10^4$, $1.2\cdot10^6$, $6.5\cdot10^6$ и $1.7\cdot10^7$, соответствующие значения $T_{1/2}$ оказались равными 18.69(2), 18.71(2), 18.91(5) и 19.43(4) нс. Для образца сравнения (металл с отношением ${}^{119}\mathrm{Sn}/{}^{119m2}\mathrm{Sn}$, равным $1.5\cdot10^5$) получено значение $T_{1/2}=18.68(6)$ нс.