|
Письма в Журнал экспериментальной и теоретической физики, 2011, том 93, выпуск 2, страницы 78–82
(Mi jetpl1809)
|
|
|
|
Эта публикация цитируется в 1 научной статье (всего в 1 статье)
КОНДЕНСИРОВАННОЕ СОСТОЯНИЕ
Влияние малых магнитных добавок к восприимчивости на угловые зависимости отражения рентгеновского поляризованного излучения от многослойных структур
М. А. Андреева, Е. Е. Одинцова Физический факультет МГУ им. М. В. Ломоносова, 119991 Москва, Россия
Аннотация:
Метод рентгеновского резонансного отражения поляризованного излучения (XRMS – X-ray resonant magnetic scattering) дает возможность определения оптических констант, включая магнитные поправки, существенные вблизи краев рентгеновского поглощения резонансных атомов, по сдвигу угла Брэгга при отражении от периодических мультислоев. Недавно Valvidares с соавторами [Phys. Rev. B 78, 064406 (2008)] обнаружили существенные различия формы “магнитных” брэгговских максимумов отражения от $\mathrm{[Co_{73}Si_{27}(50\,\mathring A)/Si(30\,\mathring A)]_{10}}$ пленки для двух противоположных случаев антиферромагнитного (АФМ) межслойного упорядочения. Авторы предположили, что эти особенности можно объяснить наличием магнитно-резонансной поправки на преломление. Мы показали, что такие поправки в случае АФМ структур не приводят к смещению брэгговского максимума, но форма “магнитных” максимумов объясняется интерференцией магнитной и немагнитной амплитуд отражения.
Поступила в редакцию: 03.11.2010 Исправленный вариант: 29.11.2010
Образец цитирования:
М. А. Андреева, Е. Е. Одинцова, “Влияние малых магнитных добавок к восприимчивости на угловые зависимости отражения рентгеновского поляризованного излучения от многослойных структур”, Письма в ЖЭТФ, 93:2 (2011), 78–82; JETP Letters, 93:2 (2011), 75–79
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/jetpl1809 https://www.mathnet.ru/rus/jetpl/v93/i2/p78
|
Статистика просмотров: |
Страница аннотации: | 178 | PDF полного текста: | 52 | Список литературы: | 37 |
|