|
Письма в Журнал экспериментальной и теоретической физики, 2005, том 81, выпуск 10, страницы 610–613
(Mi jetpl1748)
|
|
|
|
Эта публикация цитируется в 1 научной статье (всего в 1 статье)
АТОМЫ, СПЕКТРЫ, ИЗЛУЧЕНИЯ
Туннелирование рентгеновских фотонов через тонкую пленку в условиях полного внутреннего отражения
А. Г. Турьянский, И. В. Пиршин Физический институт им. П. Н. Лебедева РАН,
119991 Москва, Россия
Аннотация:
Экспериментально продемонстрировано туннелирование рентгеновских фотонов с длиной волны 0.154 и 0.139 нм через тонкую пленку в условиях полного внутреннего отражения (ПВО). Пленка NiSi$_2$ толщиной 13 нм наносилась магнетронным распылением на полированную подложку Si. Пучок с угловой расходимостью $20''$ направлялся на границу раздела Si/NiSi$_2$ изнутри через боковую поверхность образца. Пик, обусловленный туннелированием фотонов из Si в воздух через пленку NiSi$_2$, наблюдался при углах скольжения $\theta _1>0.4\theta _{\rm c}$, где $\theta _{\rm c}$ – критический угол ПВО на границе раздела Si/NiSi$_2$. Интегральная интенсивность пиков туннелирования, измеренная при различных $\theta _1$, согласуется с расчетными данными.
Поступила в редакцию: 22.04.2005
Образец цитирования:
А. Г. Турьянский, И. В. Пиршин, “Туннелирование рентгеновских фотонов через тонкую пленку в условиях полного внутреннего отражения”, Письма в ЖЭТФ, 81:10 (2005), 610–613; JETP Letters, 81:10 (2005), 491–493
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/jetpl1748 https://www.mathnet.ru/rus/jetpl/v81/i10/p610
|
Статистика просмотров: |
Страница аннотации: | 183 | PDF полного текста: | 64 | Список литературы: | 39 |
|