Экранировка заряда микрочастицы в плазме с внешним источником ионизации

Создана асимптотическая теория экранировки заряда пылевой частицы в плазме с внешним источником ионизации газа. Аналитически установлено, что в общем случае экранирование заряда микрочастицы, адсорбирующей заряд падающих на нее заряженных частиц плазмы, не описывается дебаевской теорией. Радиус экранирования определяется соотношением между коэффициентами электрон-ионной $\beta_{ei}$ и ланжевеновской $\beta_L=4\pi ek_i$ рекомбинаций ($k_i$ – подвижность ионов) и при выполнении условия $\beta_L \gg \beta_{ei}$ радиус экранирования становится значительно больше электронного дебаевского радиуса. Установлено, что в изотермической плазме ионная компонента дает одинаковый вклад с электронами в экранировку при выполнении условия, что коэффициент электрон-ионной рекомбинации в два и более раз превышает ланжевеновский коэффициент рекомбинации ионов $ \beta_{ei}\geq 2\beta_L$.