|
Письма в Журнал экспериментальной и теоретической физики, 2005, том 82, выпуск 5, страницы 326–330
(Mi jetpl1556)
|
|
|
|
Эта публикация цитируется в 4 научных статьях (всего в 4 статьях)
КОНДЕНСИРОВАННЫЕ СРЕДЫ
Наблюдение антифазных доменов в пленках $\mathrm{Cd}_x\mathrm{Hg}_{1-x}\mathrm{Te}$ на кремнии методом фазового контраста в атомно-силовой микроскопии
И. В. Сабининаa, А. К. Гутаковскийa, Ю. Г. Сидоровa, М. В. Якушевa, В. С. Варавинa, А. В. Латышевba a Институт физики полупроводников Сибирского отделения РАН
b Новосибирский государственный университет
Аннотация:
Продемонстрирована возможность использования фазового контраста в атомно-силовой микроскопии для получения адекватной информации о плотности и характере распределения антифазных доменов на поверхности пленок CdHgTe, выращенных методом молекулярно-лучевой эпитаксии на поверхности Si(301). Сопоставление фазовых изображений поверхности пленок в атомно-силовом микроскопе с изображениями структурных дефектов в приповерхностной области в просвечивающем электронном микроскопе позволило установить связь между микроструктурой и микроморфологией пленок.
Поступила в редакцию: 11.07.2005
Образец цитирования:
И. В. Сабинина, А. К. Гутаковский, Ю. Г. Сидоров, М. В. Якушев, В. С. Варавин, А. В. Латышев, “Наблюдение антифазных доменов в пленках $\mathrm{Cd}_x\mathrm{Hg}_{1-x}\mathrm{Te}$ на кремнии методом фазового контраста в атомно-силовой микроскопии”, Письма в ЖЭТФ, 82:5 (2005), 326–330; JETP Letters, 82:5 (2005), 292–296
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/jetpl1556 https://www.mathnet.ru/rus/jetpl/v82/i5/p326
|
Статистика просмотров: |
Страница аннотации: | 227 | PDF полного текста: | 131 | Список литературы: | 42 |
|