|
Известия Кабардино-Балкарского научного центра РАН, 2005, выпуск 1, страницы 64–69
(Mi izkab770)
|
|
|
|
ИНФОРМАТИКА
Метод компактного тестирования цифровых устройств, обеспечивающий максимальную достоверность контроля
Ю. К. Тлостанов Институт информатики и проблем регионального управления КБНЦ РАН, г. Нальчик
Аннотация:
Предложен алгоритм сжатия выходных двоичных последовательностей тестируемого цифрового устройства, позволяющий исключить риск пропуска ошибок. Определены необходимые для этого характеристики выходных двоичных последовательностей эталонного цифрового устройства и предложены приемы, обеспечивающие их достижение.
Ключевые слова:
метод компактного тестирования, цифровые устройства
Образец цитирования:
Ю. К. Тлостанов, “Метод компактного тестирования цифровых устройств, обеспечивающий максимальную достоверность контроля”, Известия Кабардино-Балкарского научного центра РАН, 2005, № 1, 64–69
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/izkab770 https://www.mathnet.ru/rus/izkab/y2005/i1/p64
|
Статистика просмотров: |
Страница аннотации: | 9 | PDF полного текста: | 3 | Список литературы: | 7 |
|