Известия Кабардино-Балкарского научного центра РАН
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Правила для авторов

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS



Известия Кабардино-Балкарского научного центра РАН:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти






Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация


Известия Кабардино-Балкарского научного центра РАН, 2017, выпуск 6-2, страницы 28–32 (Mi izkab219)  

ИНФОРМАТИКА. ВЫЧИСЛИТЕЛЬНАЯ ТЕХНИКА. УПРАВЛЕНИЕ

Способ измерения элементного распределения по глубине поликристаллических пленок Cu(In,Ga)Se$_2$

А. А. Бжеумиховa, З. Ч. Маргушевb, К. А. Бжеумиховb

a Institute for Scientific Instruments GmbH, 12489, Germany, Berlin, Rudower Chaussee, 29/3
b Институт информатики и проблем регионального управления – филиал ФГБНУ «Федеральный научный центр «Кабардино-Балкарский научный центр Российской академии наук», 360000, КБР, г.  Нальчик, ул.  И.  Арманд, 37-а
Список литературы:
Аннотация: Приведены результаты исследования, демонстрирующие возможности по измерению распределения элементов в фотовольтаических пленках Cu(In,Ga)Se$_2$ на основе комбинирования рентгенофлуоресцентного анализа и метода “края ножа”. Достигнуто субмикронное разрешение по глубине, которое определяется особенностями геометрии измерения, использования поликапиллярной оптики для эффективной фокусировки излучения от рентгеновской трубки мощностью 30 Вт в пятно размером 20-25 мкм, а также полнопольного детектора рентгеновского излучения с пространственным разрешением 48 мкм. Преимуществом предлагаемого подхода является неразрушающий характер, при этом точность измерения толщины слоев Сu, Ga и Se на реальном образце была на уровне 12-14%.
Ключевые слова: фотоэлектрические пленки, рентгенофлуоресцентный анализ, рентгеновская капиллярная оптика, метод «края ножа».
Поступила в редакцию: 12.11.2017
Тип публикации: Статья
УДК: 538.958+53.083.98
Образец цитирования: А. А. Бжеумихов, З. Ч. Маргушев, К. А. Бжеумихов, “Способ измерения элементного распределения по глубине поликристаллических пленок Cu(In,Ga)Se$_2$”, Известия Кабардино-Балкарского научного центра РАН, 2017, № 6-2, 28–32
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{BzhMarBzh17}
\by А.~А.~Бжеумихов, З.~Ч.~Маргушев, К.~А.~Бжеумихов
\paper Способ измерения элементного распределения
по глубине поликристаллических пленок Cu(In,Ga)Se$_2$
\jour Известия Кабардино-Балкарского научного центра РАН
\yr 2017
\issue 6-2
\pages 28--32
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/izkab219}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/izkab219
  • https://www.mathnet.ru/rus/izkab/y2017/i62/p28
  • Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    Известия Кабардино-Балкарского научного центра РАН Известия Кабардино-Балкарского научного центра РАН
    Статистика просмотров:
    Страница аннотации:50
    PDF полного текста:27
    Список литературы:18
     
      Обратная связь:
     Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2024