|
Информационные технологии и вычислительные системы, 2015, выпуск 4, страницы 22–27
(Mi itvs205)
|
|
|
|
ВЫЧИСЛИТЕЛЬНЫЕ СИСТЕМЫ И ПРОГРАММНОЕ ОБЕСПЕЧЕНИЕ
Аппаратно программные средства тестирования и отладки КМОП цифровых СБИС по интерфейсу JTAG
М. С. Ладнушкин ФГН ФНЦ НИИСИ РАН
Аннотация:
Предложена аппаратно-программная система тестирования и отладки СБИС на основе технологии сканирования для микропроцессоров типа СнК, позволяющая в 2 раза сократить площадь тестовой логики, ограничившись 0,1% относительно исходного проекта. Обоснованы схемотехнические решения при построении архитектуры встроенной системы отладки по критериям занимаемой площади и отладочного события.
Ключевые слова:
отладка СБИС, JTAG, скан-технология.
Образец цитирования:
М. С. Ладнушкин, “Аппаратно программные средства тестирования и отладки КМОП цифровых СБИС по интерфейсу JTAG”, ИТиВС, 2015, № 4, 22–27
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/itvs205 https://www.mathnet.ru/rus/itvs/y2015/i4/p22
|
|