Известия Саратовского университета. Новая серия. Серия: Физика
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS



Изв. Сарат. ун-та. Нов. cер. Сер. Физика:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти






Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация


Известия Саратовского университета. Новая серия. Серия: Физика, 2016, том 16, выпуск 4, страницы 212–217
DOI: https://doi.org/10.18500/1817-3020-2016-16-4-212-217
(Mi isuph273)
 

Эта публикация цитируется в 1 научной статье (всего в 1 статье)

Физика конденсированного состояния вещества

Влияние примесных атомов Sm на эффект переключения в тонких пленках GeS

Р. С. Мадатовa, А. С. Алекперовb, А. Э. Набиевb

a Научно-исследовательский институт радиационных проблем Национальной академии наук Азербайджана
b Азербайджанский государственный педагогический университет
Список литературы:
Аннотация: В последние годы возросло внимание к новым полупроводниковым материалам на основе А$^{iv}$В$^{vi}$. Среди них особый интерес представляют тонкие фоточувствительные пленки моносульфида германия. Недавно было создано уникальное устройство из GeS. Тонкие пластинки способны содержать большое количество ионов лития. Данный материал отлично подходит в качестве сырья при производстве солнечных панелей. Наряду с этим качеством тонкие пленки моносульфида германия обладают эффектами переключения и памяти. Тонкие пленки, полученные термическим испарением на холодных подложках, являются аморфными. Примеси редкоземельных элементов, в том числе атомы Sm, образуют зародыши кристаллизации. Несмотря на то что кристаллизация полностью не осуществляется по всему объему, фазовый переход обнаруживается в тонких пленках GeS:Sm. Характерными для этого эффекта является большая разница в сопротивлении высокоомного и низкоомного состояния, большое число циклов переключения, малые времена и энергии переключения. В ходе наших исследований было выявлено, что кратность изменения сопротивления при переключении равна 105-106, время переключения - ( 10$^{-6}$ с), потребляемая энергия при переключении - ( 10$^{-7}$ Дж). Это обусловливает необходимость исследования основных закономерностей эффекта переключения проводимости в тонких пленках GeS:Sm с памятью, их зависимость от внешних факторов. В связи с этим были проведены исследования влияния температуры и освещения на эффект переключения в тонких пленках GeS:Sm.
Ключевые слова: тонкие пленки, моносульфид германия, примесные атомы, редкоземельные элементы, сэндвич-структура, эффект переключения и памяти, фазовый переход, кристаллизация, самокомпенсация, высокоомное и низкоомное состояние, комплексы и ассоциаты, уровни прилипания.
Тип публикации: Статья
Образец цитирования: Р. С. Мадатов, А. С. Алекперов, А. Э. Набиев, “Влияние примесных атомов Sm на эффект переключения в тонких пленках GeS”, Изв. Сарат. ун-та. Нов. cер. Сер. Физика, 16:4 (2016), 212–217
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{MadAleNab16}
\by Р.~С.~Мадатов, А.~С.~Алекперов, А.~Э.~Набиев
\paper Влияние примесных атомов \textit{Sm} на эффект переключения в тонких пленках \textit{GeS}
\jour Изв. Сарат. ун-та. Нов. cер. Сер. Физика
\yr 2016
\vol 16
\issue 4
\pages 212--217
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/isuph273}
\crossref{https://doi.org/10.18500/1817-3020-2016-16-4-212-217}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/isuph273
  • https://www.mathnet.ru/rus/isuph/v16/i4/p212
  • Эта публикация цитируется в следующих 1 статьяx:
    Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    Известия Саратовского университета. Новая серия. Серия: Физика
    Статистика просмотров:
    Страница аннотации:36
    PDF полного текста:12
    Список литературы:23
     
      Обратная связь:
     Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2024