Интеллектуальные системы. Теория и приложения
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS


Интеллектуальные системы. Теория и приложения:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти




Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация

Интеллектуальные системы. Теория и приложения, 2021, том 25, выпуск 4, страницы 153–156 (Mi ista438)  
Часть 2. Математика и компьютерные науки

О проверяющих тестах относительно локальных перестановок входов схем

М. А. Лопунов

МГУ
PDF полного текста (344 kB)
Список литературы:
PDF
HTML
Аннотация: В работе установлен порядок роста функции Шеннона длины проверяющего теста относительно источника неисправностей, который может произвольным образом менять местами любые k подряд идущих входов схемы.
Ключевые слова: проверяющий тест, тесты на входах СФЭ, функция Шеннона, перестановки.
Тип публикации: Статья
Образец цитирования: М. А. Лопунов, “О проверяющих тестах относительно локальных перестановок входов схем”, Интеллектуальные системы. Теория и приложения, 25:4 (2021), 153–156
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{Lop21}
\by М.~А.~Лопунов
\paper О проверяющих тестах относительно локальных перестановок входов схем
\jour Интеллектуальные системы. Теория и приложения
\yr 2021
\vol 25
\issue 4
\pages 153--156
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/ista438}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/ista438
  • https://www.mathnet.ru/rus/ista/v25/i4/p153
    • Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    		Интеллектуальные системы. Теория и приложения
     
      Обратная связь:
    		  Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2024