Оценка фрактальных свойств наноструктур по микроскопическим изображениям

В работе исследован метод анализа фрактальных свойств изображений на основе их структурной функции. Предложено расширение данного метода с целью анализа локальных фрактальных признаков. Исследован метод синтеза изображений со свойствами спектрального самоподобия и предложен метод модификации изображений во фрактальные с самоподобной структурной функцией на основе вейвлет-преобразований. Разработано программное средство для фрактального анализа микроскопических изображений с использованием исследуемых методов. Показана эффективность исследуемых методов посредством их проверки на смоделированных фрактальных изображениях. Предложено применение разработанных инструментов фрактального анализа в области электронной и оптической микроскопии.