Влияние нерезонансных периодических возмущений на положение иглы туннельного микроскопа

Исследуется влияние на положение иглы туннельного микроскопа нерезонансных колебаний в плоскости рабочего стола. Необходимость такого исследования обусловлена малым зазором (около 1 нанометра) между иглой и поверхностью в процессе сканирования. Показано, что наибольший вклад в ошибки положения иглы вносит прогиб конструкции под действием силы тяжести, который изменяется при раскачивании оси микроскопа. Этот эффект наиболее выражен в низкочастотном диапазоне колебаний. В этом диапазоне его вклад на порядок превосходит вклад поступательных колебаний, которые традиционно учитываются при расчетах влияния внешних возмущений.