|
Эта публикация цитируется в 2 научных статьях (всего в 2 статьях)
Нижние оценки длин единичных тестов для схем из функциональных элементов
К. А. Попков
Аннотация:
Получены нетривиальные нижние оценки длин минимальных единичных проверяющих и диагностических тестов для схем из функциональных элементов в широких классах базисов при однотипных и произвольных константных неисправностях на выходах элементов.
Ключевые слова:
схема из функциональных элементов, неисправность, единичный проверяющий тест, единичный диагностический тест.
Образец цитирования:
К. А. Попков, “Нижние оценки длин единичных тестов для схем из функциональных элементов”, Препринты ИПМ им. М. В. Келдыша, 2016, 139, 21 с.
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/ipmp2214 https://www.mathnet.ru/rus/ipmp/y2016/p139
|
Статистика просмотров: |
Страница аннотации: | 152 | PDF полного текста: | 59 | Список литературы: | 44 |
|