Препринты Института прикладной математики им. М. В. Келдыша РАН
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS


Препринты ИПМ им. М. В. Келдыша:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти




Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация

Препринты Института прикладной математики им. М. В. Келдыша РАН, 2016, 060, 12 стр.
DOI: https://doi.org/10.20948/prepr-2016-60 (Mi ipmp2136) 		 
Эта публикация цитируется в 2 научных статьях (всего в 2 статьях)

Нижние оценки длин полных диагностических тестов для схем и входов схем

К. А. Попков
PDF полного текста (329 kB) Список цитирования (2)
Список литературы:
PDF
HTML
DOI: https://doi.org/10.20948/prepr-2016-60
Аннотация: Получены экспоненциальные нижние оценки длин следующих тестов:
  • полных диагностических тестов при однотипных и произвольных константных неисправностях на входах схем;
  • полных диагностических тестов для схем из функциональных элементов в некоторых базисах при однотипных и произвольных константных неисправностях на выходах элементов.
Ключевые слова: схема из функциональных элементов, неисправность, полный диагностический тест, тест для входов схем.
Финансовая поддержка Номер гранта
Российский фонд фундаментальных исследований 14-01-00598_а
Российская академия наук - Федеральное агентство научных организаций
Работа выполнена при поддержке Российского фонда фундаментальных исследований (проект № 14–01–00598) и программы фундаментальных исследований ОМН РАН «Алгебраические и комбинаторные методы математической кибернетики и информационные системы нового поколения» (проект «Задачи оптимального синтеза управляющих систем»).
Тип публикации: Препринт
Образец цитирования: К. А. Попков, “Нижние оценки длин полных диагностических тестов для схем и входов схем”, Препринты ИПМ им. М. В. Келдыша, 2016, 060, 12 с.
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{Pop16}
\by К.~А.~Попков
\paper Нижние оценки длин полных диагностических тестов для схем и входов схем
\jour Препринты ИПМ им.~М.~В.~Келдыша
\yr 2016
\papernumber 060
\totalpages 12
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/ipmp2136}
\crossref{https://doi.org/10.20948/prepr-2016-60}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/ipmp2136
  • https://www.mathnet.ru/rus/ipmp/y2016/p60
    • Эта публикация цитируется в следующих 2 статьяx:
    Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    		Препринты Института прикладной математики им. М. В. Келдыша РАН
    Статистика просмотров:
    Страница аннотации:83
    PDF полного текста:23
    Список литературы:26
     
      Обратная связь:
    		  Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2024