Итоги науки и техники. Современная математика и ее приложения. Тематические обзоры
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Правила для авторов

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS



Итоги науки и техн. Соврем. мат. и ее прил. Темат. обз.:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти






Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация


Итоги науки и техники. Современная математика и ее приложения. Тематические обзоры, 2019, том 172, страницы 104–112
DOI: https://doi.org/10.36535/0233-6723-2019-172-104-112
(Mi into549)
 

Эта публикация цитируется в 2 научных статьях (всего в 2 статьях)

Сравнительный анализ матричного метода и метода конечных разностей для моделирования распределения неосновных носителей заряда в многослойной планарной полупроводниковой структуре

Е. В. Серегинаa, В. В. Калмановичb, М. А. Степовичb

a Калужский филиал МГТУ им. Н. Э. Баумана
b Калужский государственный университет им. К.Э. Циолковского
Список литературы:
Аннотация: Стационарное дифференциальное уравнение тепломассопереноса с разрывными коэффициентами описывает различные физические процессы, не зависящие от времени, например, распределение неосновных носителей заряда от стационарного источника в неоднородной или многослойной структуре. В работе изложены результаты анализа возможностей применения матричного метода и метода конечных разностей для моделирования распределения неосновных носителей заряда, генерированных киловольтными электронами в многослойном полупроводниковом материале. Показана эффективность матричного метода для решения стационарных дифференциальных уравнений с разрывными коэффициентами.
Ключевые слова: математическая модель, дифференциальное уравнение, электронный пучок, полупроводник, многослойная планарная структура, матричный метод, метод конечных разностей.
Финансовая поддержка Номер гранта
Российский фонд фундаментальных исследований 19-03-00271
18-41-400001
Работа выполнена при поддержке Российского фонда фундаментальных исследований (проект № 19–03–00271), а также совместного проекта Российского фонда фундаментальных исследований и правительства Калужской области № 18–41–400001.
Тип публикации: Статья
УДК: 517.927.2, 519.677
Образец цитирования: Е. В. Серегина, В. В. Калманович, М. А. Степович, “Сравнительный анализ матричного метода и метода конечных разностей для моделирования распределения неосновных носителей заряда в многослойной планарной полупроводниковой структуре”, Материалы Воронежской зимней математической школы «Современные методы теории функций и смежные проблемы». 28 января–2 февраля 2019 г. Часть 3, Итоги науки и техн. Соврем. мат. и ее прил. Темат. обз., 172, ВИНИТИ РАН, М., 2019, 104–112
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{SerKalSte19}
\by Е.~В.~Серегина, В.~В.~Калманович, М.~А.~Степович
\paper Сравнительный анализ матричного метода и метода конечных разностей для моделирования распределения неосновных носителей заряда в многослойной планарной полупроводниковой структуре
\inbook Материалы Воронежской зимней математической школы «Современные методы теории функций и смежные проблемы». 28 января–2 февраля 2019 г. Часть 3
\serial Итоги науки и техн. Соврем. мат. и ее прил. Темат. обз.
\yr 2019
\vol 172
\pages 104--112
\publ ВИНИТИ РАН
\publaddr М.
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/into549}
\crossref{https://doi.org/10.36535/0233-6723-2019-172-104-112}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/into549
  • https://www.mathnet.ru/rus/into/v172/p104
  • Эта публикация цитируется в следующих 2 статьяx:
    Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    Итоги науки и техники. Современная математика и ее приложения. Тематические обзоры Итоги науки и техники. Современная математика и ее приложения. Тематические обзоры
    Статистика просмотров:
    Страница аннотации:254
    PDF полного текста:111
    Список литературы:58
     
      Обратная связь:
     Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2024