Влияние размерности поликристаллической пленки и оптической анизотропии кристаллитов на эффективную диэлектрическую проницаемость пленки

Показано сильное влияние размерности $D$ поликристаллической пленки и анизотропии $m = \varepsilon_{z}/\varepsilon_{x}$ одноосных кристаллитов с главными компонентами $\varepsilon_{x} = \varepsilon_{y}$, $\varepsilon_{z}$ тензора диэлектрической проницаемости на эффективную диэлектрическую проницаемость $\varepsilon_{D}^{*}$ и показатель преломления $n_{D}^{*}= {(\varepsilon_{D}^{*})}^{1/2}$ пленки в оптической области прозрачности, а также на границы интервалов $B_{Dl}\le \varepsilon_{D}^{*}\le B_{Du}$. Интервалы $\Delta_{2}(m)= B_{2l}-B_{2u}$ и $\Delta_{3}(m)=B_{3l}-B_{3u}$ разделены щелью при 1 $<m<$ 2, а теоретическая зависимость $\varepsilon_{2}^{*}(m)$ отделена щелью от интервала $\Delta_{3}(m)$ при 1 $<m<$ 4. Это подтверждено сравнением экспериментальных $(n_{oP})$ и теоретических $(n_{2}^{*})$ значений обыкновенного показателя преломления для одноосных поликристаллических пленок сопряженного полимера PPV с одноосными кристаллитами и подходящими значениями $m$. В видимой области прозрачности пленок PPV при изменении $m(\lambda)$ в интервале 2 $<m(\lambda)<$ 3 за счет зависимости компонент $\varepsilon_{x,z}(\lambda)$ от длины световой волны $\lambda$ значения $n_{oP}^{2}(\lambda)= \varepsilon_{oP}(\lambda)$ согласуются с теоретическими $\varepsilon_{2}^{*}(\lambda)$ и лежат вне интервала $\Delta_{3}(m)$. При $m(\lambda)>$ 3 вблизи полосы электронного поглощения кристаллитов значения $\varepsilon_{oP}(\lambda)$ лежат в области перекрытия интервалов $\Delta_{2}(m)$ и $\Delta_{3}(m)$. Установлены границы $m_{c}$ областей 1 $<m<m_{c}$, для которых интервал $\Delta_{2}(m)$ отделен щелью от зависимостей $\varepsilon_{3}^{*}(m)$, отвечающих теории эффективной среды со сферическими кристаллитами и иерархическим моделям поликристалла, а также от предложенной новой зависимости $\varepsilon_{3}^{*}(m)$.