Влияние морфологии на механизмы перемагничивания многослойных тонких пленок Co/Pd

Методом магнитометрии проведено сравнительное исследование кривых намагниченности сплошной и пористой многослойной пленки Pd$_{10nm}$/[Co$_{0.3nm}$/Pd$_{0.55nm}$]$_{15}$/Pd$_{2nm}$, осажденной на темплат анодного TiO$_{2}$. На основании сопоставления зависимостей коэрцитивной силы $H_{C}$ от угла $\theta$ между осью легкого намагничивания и направлением внешнего магнитного поля $H$ с теоретическими зависимостями $H_{C}(\theta)$ для перемагничивания путем движения доменных стенок (по модели Кондорского) и вращения магнитных моментов (по модели Стонера–Вольфарта) выявлены различия в механизмах перемагничивания двух указанных типов пленок. Обсуждается взаимосвязь между различием в морфологии сплошной и пористой пленок и выявленной сменой механизма перемагничивания, а также изменениями значений $H_{C}$ и рассчитанных констант магнитной анизотропии.