|
Эта публикация цитируется в 9 научных статьях (всего в 9 статьях)
Полупроводники
ЯМР-исследования монокристаллов топологического изолятора Bi$_{2}$Te$_{3}$ при низких температурах
А. О. Антоненкоa, Е. В. Чарнаяa, Д. Ю. Нефедовa, Д. Ю. Подорожкинa, А. В. Усковa, А. С. Бугаевb, M. K. Leec, L. J. Changc, С. В. Наумовd, Ю. А. Перевозчиковаd, В. В. Чистяковd, Е. Б. Марченковаd, H. W. Webere, J. C. A. Huangc, В. В. Марченковdf a Санкт-Петербургский государственный университет
b Московский физико-технический институт (государственный университет), г. Долгопрудный, Московская обл.
c National Cheng Kung University, Tainan, Taiwan
d Институт физики металлов им. М.Н. Михеева УрО РАН, г. Екатеринбург
e Atominstitut, Vienna University of Technology, Vienna, Austria
f Уральский федеральный университет им. Б. Н. Ельцина, г. Екатеринбург
Аннотация:
Проведены исследования методом ЯМР $^{125}$Te порошкового образца и монокристаллических пластинок топологического изолятора Bi$_{2}$Te$_{3}$ при комнатной температуре и при низких температурах в интервале 12.5–16.5 K. Спектры монокристаллических пластинок исследовались в ориентации, в которой кристаллографическая ось c была параллельна или перпендикулярна магнитному полю. Для получения спектров регистрировались сигналы спинового эха и строилась их огибающая. Показано, что спектр ЯМР для порошка теллурида висмута и для пластинок с ориентацией $\mathbf{c}\perp\mathbf{B}$ состоит из двух линий, которые предположительно обусловлены ядрами теллура в двух кристаллографических позициях в объеме образца. Положение и форма линий определяются химическим сдвигом и сдвигом Найта. Для ориентации пластинок $\mathbf{c}\parallel\mathbf{B}$ в спектре имеется дополнительная компонента в области высоких частот, которая не может появиться за счет угловой зависимости сдвигов линий, обусловленных ядрами теллура в объеме топологического изолятора. При низкой температуре дополнительная линия доминирует в спектре.
Поступила в редакцию: 06.10.2016
Образец цитирования:
А. О. Антоненко, Е. В. Чарная, Д. Ю. Нефедов, Д. Ю. Подорожкин, А. В. Усков, А. С. Бугаев, M. K. Lee, L. J. Chang, С. В. Наумов, Ю. А. Перевозчикова, В. В. Чистяков, Е. Б. Марченкова, H. W. Weber, J. C. A. Huang, В. В. Марченков, “ЯМР-исследования монокристаллов топологического изолятора Bi$_{2}$Te$_{3}$ при низких температурах”, Физика твердого тела, 59:5 (2017), 836–840; Phys. Solid State, 59:5 (2017), 855–859
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/ftt9569 https://www.mathnet.ru/rus/ftt/v59/i5/p836
|
Статистика просмотров: |
Страница аннотации: | 45 | PDF полного текста: | 17 |
|