Аннотация:
Проведены исследования методом ЯМР 125Te порошкового образца и монокристаллических пластинок топологического изолятора Bi2Te3 при комнатной температуре и при низких температурах в интервале 12.5–16.5 K. Спектры монокристаллических пластинок исследовались в ориентации, в которой кристаллографическая ось c была параллельна или перпендикулярна магнитному полю. Для получения спектров регистрировались сигналы спинового эха и строилась их огибающая. Показано, что спектр ЯМР для порошка теллурида висмута и для пластинок с ориентацией c⊥B состоит из двух линий, которые предположительно обусловлены ядрами теллура в двух кристаллографических позициях в объеме образца. Положение и форма линий определяются химическим сдвигом и сдвигом Найта. Для ориентации пластинок c∥B в спектре имеется дополнительная компонента в области высоких частот, которая не может появиться за счет угловой зависимости сдвигов линий, обусловленных ядрами теллура в объеме топологического изолятора. При низкой температуре дополнительная линия доминирует в спектре.
Образец цитирования:
А. О. Антоненко, Е. В. Чарная, Д. Ю. Нефедов, Д. Ю. Подорожкин, А. В. Усков, А. С. Бугаев, M. K. Lee, L. J. Chang, С. В. Наумов, Ю. А. Перевозчикова, В. В. Чистяков, Е. Б. Марченкова, H. W. Weber, J. C. A. Huang, В. В. Марченков, “ЯМР-исследования монокристаллов топологического изолятора Bi2Te3 при низких температурах”, Физика твердого тела, 59:5 (2017), 836–840; Phys. Solid State, 59:5 (2017), 855–859