|
Эта публикация цитируется в 16 научных статьях (всего в 16 статьях)
Диэлектрики
Электронно-лучевая зарядка диэлектриков, предварительно облученных ионами и электронами средних энергий
Э. И. Рау, А. А. Татаринцев, Е. Ю. Зыкова, И. П. Иваненко, С. Ю. Купреенко, К. Ф. Миннебаев, А. А. Хайдаров Московский государственный университет имени М. В. Ломоносова
Аннотация:
Изучены эффекты зарядки диэлектрических мишеней при облучении электронами средних энергий в сканирующем электронном микроскопе. Установлены существенные различия кинетики зарядки для исходных образцов и образцов, предварительно облученных электронами и ионами. Эти различия объясняются радиационно-стимулированным дефектообразованием в образцах Al$_{2}$O$_{3}$ (сапфир) и SiO$_{2}$, имеющим, однако, различную природу. Показана роль модификации структуры поверхности и изменения электрофизических характеристик поверхности, в частности эффекта растекания зарядов. Обнаружены критические значения дозы облучения как ионами Ar$^{+}$, так и электронами, при которых начинается активное дефектообразование в диэлектрических мишенях, а также критические значения внутренних полей зарядов, вносящих существенный вклад во временны́е характеристики зарядки Al$_{2}$O$_{3}$ и SiO$_{2}$.
Поступила в редакцию: 28.12.2016 Исправленный вариант: 14.02.2017
Образец цитирования:
Э. И. Рау, А. А. Татаринцев, Е. Ю. Зыкова, И. П. Иваненко, С. Ю. Купреенко, К. Ф. Миннебаев, А. А. Хайдаров, “Электронно-лучевая зарядка диэлектриков, предварительно облученных ионами и электронами средних энергий”, Физика твердого тела, 59:8 (2017), 1504–1513; Phys. Solid State, 59:8 (2017), 1526–1535
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/ftt9484 https://www.mathnet.ru/rus/ftt/v59/i8/p1504
|
Статистика просмотров: |
Страница аннотации: | 51 | PDF полного текста: | 26 |
|