Моделирование структурного состояния аморфных фаз наноразмерного SiO$_{2}$, синтезированного различными методами

Методами рентгеноструктурного анализа и имитационного моделирования исследовано структурное состояние наноразмерного SiO$_{2}$. Проведено сравнение наночастиц аэросила и наночастиц, синтезированных методом испарения электронным пучком. Показано, что наночастицы всех образцов находятся в аморфном состоянии. Методом молекулярной динамики проведено моделирование аморфного состояния элементарной ячейки фазы SiO$_{2}$. В результате полнопрофильного уточнения параметров модельной фазы SiO$_{2}$ (метод Ритвельда) установлена полная структурная информация при вариации удельной поверхности. Определены параметры примитивных ячеек, пространственное распределение атомов, занятость узлов ячеек. Показано, что в наночастицах аэросила с ростом энергии связи атомов в ячейке удельная поверхность снижается, а в наночастицах таркосила возрастает.