|
Эта публикация цитируется в 9 научных статьях (всего в 9 статьях)
Диэлектрики
Исследования топологического изолятора Bi$_{2}$Te$_{3}$ методом ЯМР в широком температурном диапазоне
А. О. Антоненкоa, Е. В. Чарнаяa, Д. Ю. Нефедовa, Д. Ю. Подорожкинa, А. В. Усковa, А. С. Бугаевb, M. K. Leec, L. J. Changc, С. В. Наумовd, Ю. А. Перевозчиковаd, В. В. Чистяковd, J. C. A. Huangc, В. В. Марченковdef a Санкт-Петербургский государственный университет
b Московский физико-технический институт (государственный университет), г. Долгопрудный, Московская обл.
c National Cheng Kung University, Tainan, Taiwan
d Институт физики металлов им. М.Н. Михеева УрО РАН, г. Екатеринбург
e Atominstitut, Vienna University of Technology, Vienna, Austria
f Уральский федеральный университет им. Б. Н. Ельцина, г. Екатеринбург
Аннотация:
Проведены исследования методом ЯМР $^{125}$Te топологического изолятора теллурида висмута Bi$_{2}$Te$_{3}$ в широком диапазоне от комнатной температуры до 12.5 K. Измерения проводились на импульсном ЯМР-спектрометре Bruker Avance 400. Спектры ЯМР были получены для порошка, приготовленного из монокристалла Bi$_{2}$Te$_{3}$, и для монокристаллических пластин в ориентациях $c\parallel\mathbf{B}$ и $c\perp\mathbf{B}$. Спектры при комнатной температуре состояли из двух линий, которые были отнесены к двум неэквивалентным позициями ядер теллура Te1 и Te2. Параметры тензора сдвига частоты ЯМР были найдены из спектра для порошка. Температурные зависимости спектров для порошка и пластин в ориентации $c\perp\mathbf{B}$ согласовывались между собой. Изменения положения линий с понижением температуры объяснялись уменьшением сдвига Найта. Была оценена энергия термоактивации носителей заряда. Спектры для пластин в ориентации $c\parallel\mathbf{B}$ демонстрировали особенности ниже 91 K. Измерены времена спин-решеточной релаксации для порошка и монокристаллических пластин в обеих ориентациях при комнатной температуре.
Поступила в редакцию: 25.04.2017
Образец цитирования:
А. О. Антоненко, Е. В. Чарная, Д. Ю. Нефедов, Д. Ю. Подорожкин, А. В. Усков, А. С. Бугаев, M. K. Lee, L. J. Chang, С. В. Наумов, Ю. А. Перевозчикова, В. В. Чистяков, J. C. A. Huang, В. В. Марченков, “Исследования топологического изолятора Bi$_{2}$Te$_{3}$ методом ЯМР в широком температурном диапазоне”, Физика твердого тела, 59:12 (2017), 2308–2316; Phys. Solid State, 59:12 (2017), 2331–2339
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/ftt9352 https://www.mathnet.ru/rus/ftt/v59/i12/p2308
|
|