Аномальная зависимость интенсивности рентгеновских рефлексов Cs$_{2}$SO$_{4}$ от размера и формы кристаллитов

Проведены детальные рентгеновские и электронно-микроскопические исследования порошков Cs$_{2}$SO$_{4}$, состоящих из шароподобных и пластинчатых кристаллитов. Установлено, что распределение интенсивности рентгеновских рефлексов в обоих случаях кардинально отличается друг от друга, сохраняя свое положение на оси углов дифракции в соответствии с базой данных PDF-2. Электронно-микроскопические микродифракционные исследования ориентации развитых поверхностей пластинчатых кристаллитов выявили 4 различных направления, однако эти направления не смогли обеспечить текстурного усиления целого ряда наблюдаемых $(hkl)$ отражений. Сделано заключение, что в основе перераспределения интенсивностей лежит сферичность рентгеновских волн, падающих на образец.