|
Эта публикация цитируется в 2 научных статьях (всего в 2 статьях)
Магнетизм
Влияние скин-эффекта и активных потерь на интенсивность линий ЭПР в полупроводящих веществах
А. М. Зюзин, А. А. Карпеев, Н. В. Янцен Мордовский государственный университет имени Н. П. Огарева, г. Саранск
Аннотация:
Исследовано влияние скин-эффекта и активных потерь в образцах полупроводящего композита с широким диапазоном значений проводимости на интенсивность линии поглощения ЭПР. Предложен подход, позволяющий получить удовлетворительное соответствие расчетных и экспериментальных результатов. Показано, что в зависимости от проводимости исследуемого вещества, интенсивность линии поглощения, соответствующая единице объема, может в разы уменьшаться с увеличением объема исследуемого образца.
Ключевые слова:
электронный парамагнитный резонанс, скин-эффект, полупроводящие вещества.
Поступила в редакцию: 24.09.2019 Исправленный вариант: 04.10.2019 Принята в печать: 08.10.2019
Образец цитирования:
А. М. Зюзин, А. А. Карпеев, Н. В. Янцен, “Влияние скин-эффекта и активных потерь на интенсивность линий ЭПР в полупроводящих веществах”, Физика твердого тела, 62:2 (2020), 241–246; Phys. Solid State, 62:2 (2020), 291–296
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/ftt8493 https://www.mathnet.ru/rus/ftt/v62/i2/p241
|
Статистика просмотров: |
Страница аннотации: | 57 | PDF полного текста: | 47 |
|