Физика твердого тела
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Правила для авторов

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS



Физика твердого тела:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти






Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация


Физика твердого тела, 2020, том 62, выпуск 2, страницы 223–228
DOI: https://doi.org/10.21883/FTT.2020.02.48871.584
(Mi ftt8489)
 

Эта публикация цитируется в 3 научных статьях (всего в 3 статьях)

Диэлектрики

Диэлектрические потери тонкопленочных образцов SiO$_{2}$ на Al в THz-IR-диапазоне

Г. А. Командин, В. С. Ноздрин, А. А. Пронин, О. Е. Породинков, В. Б. Анзин, И. Е. Спектор

Институт общей физики им. А.М. Прохорова Российской академии наук, г. Москва
Аннотация: Создание новых диэлектрических материалов для изолирующих слоев межсоединений с низкими потерями на высоких частотах (low-$k$) является одним из магистральных направлений современной микроэлектроники. В настоящее время проводятся исследования различных модификаций стандартных для современных интегральных схем диэлектрических структур на основе SiO$_{2}$, различающихся по составу и морфологическим характеристикам. В данной работе методами терагерцовой (THz) и IR-спектроскопии изучаются диэлектрические потери тонкопленочных образцов SiO$_{2}$ на Al-подложке. Обнаружены существенные отличия спектров таких структур по сравнению с объемными образцами плавленого кварца, в том числе резонансные моды Берримана.
Ключевые слова: диэлектрическая спектроскопия, терагерцовый диапазон, спектрометр с временным разрешением, диэлектрические потери.
Финансовая поддержка Номер гранта
Российский фонд фундаментальных исследований 18-29-27010 МК
Работа выполнена при частичной финансовой поддержке Российского фонда фундаментальных исследований, грант № 18-29-27010 МК.
Поступила в редакцию: 16.09.2019
Исправленный вариант: 16.09.2019
Принята в печать: 16.09.2019
Англоязычная версия:
Physics of the Solid State, 2020, Volume 62, Issue 2, Pages 267–272
DOI: https://doi.org/10.1134/S1063783420020158
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
Образец цитирования: Г. А. Командин, В. С. Ноздрин, А. А. Пронин, О. Е. Породинков, В. Б. Анзин, И. Е. Спектор, “Диэлектрические потери тонкопленочных образцов SiO$_{2}$ на Al в THz-IR-диапазоне”, Физика твердого тела, 62:2 (2020), 223–228; Phys. Solid State, 62:2 (2020), 267–272
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{KomNozPro20}
\by Г.~А.~Командин, В.~С.~Ноздрин, А.~А.~Пронин, О.~Е.~Породинков, В.~Б.~Анзин, И.~Е.~Спектор
\paper Диэлектрические потери тонкопленочных образцов SiO$_{2}$ на Al в THz-IR-диапазоне
\jour Физика твердого тела
\yr 2020
\vol 62
\issue 2
\pages 223--228
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/ftt8489}
\crossref{https://doi.org/10.21883/FTT.2020.02.48871.584}
\elib{https://elibrary.ru/item.asp?id=42571215}
\transl
\jour Phys. Solid State
\yr 2020
\vol 62
\issue 2
\pages 267--272
\crossref{https://doi.org/10.1134/S1063783420020158}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/ftt8489
  • https://www.mathnet.ru/rus/ftt/v62/i2/p223
  • Эта публикация цитируется в следующих 3 статьяx:
    Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    Физика твердого тела Физика твердого тела
    Статистика просмотров:
    Страница аннотации:62
    PDF полного текста:49
     
      Обратная связь:
     Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2024