Аннотация:
Изучены мемристивные свойства слоистых конденсаторных структур на основе нанокомпозита (Co40Fe40B20)x(LiNbO3)100−x и LiNbO3 с толщинами 10 и 40 nm, соответственно. Впервые продемонстрирован резкий переход от одно- к многофиламентному механизму резистивного переключения, возникающий при увеличении содержания металлической фазы в нанокомпозите, который объяснен на основе ранее предложенной модели. Ключевые слова: мемристор, эффект резистивного переключения, нанокомпозит металл-оксид.
Ключевые слова:
мемристор, эффект резистивного переключения, нанокомпозит металл-оксид.
Образец цитирования:
К. Э. Никируй, А. И. Ильясов, А. В. Емельянов, А. В. Ситников, В. В. Рыльков, В. А. Демин, “Мемристоры на основе наноразмерных слоев LiNbO3 и композита (Co40Fe40B20)x(LiNbO3)100−x”, Физика твердого тела, 62:9 (2020), 1562–1565; Phys. Solid State, 62:9 (2020), 1732–1735
\RBibitem{NikIlyEme20}
\by К.~Э.~Никируй, А.~И.~Ильясов, А.~В.~Емельянов, А.~В.~Ситников, В.~В.~Рыльков, В.~А.~Демин
\paper Мемристоры на основе наноразмерных слоев LiNbO$_{3}$ и композита (Co$_{40}$Fe$_{40}$B$_{20}$)$_{x}$(LiNbO$_{3}$)$_{100-x}$
\jour Физика твердого тела
\yr 2020
\vol 62
\issue 9
\pages 1562--1565
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/ftt8333}
\crossref{https://doi.org/10.21883/FTT.2020.09.49787.07H}
\elib{https://elibrary.ru/item.asp?id=44154246}
\transl
\jour Phys. Solid State
\yr 2020
\vol 62
\issue 9
\pages 1732--1735
\crossref{https://doi.org/10.1134/S1063783420090218}
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/ftt8333
https://www.mathnet.ru/rus/ftt/v62/i9/p1562
Эта публикация цитируется в следующих 7 статьяx:
И. А. Суражевский, В. В. Рыльков, В. А. Демин, “Компактная поведенческая модель нанокомпозитного мемристора”, Радиотехника и электроника, 68:11 (2023), 1140
Victor Erokhin, Reference Module in Materials Science and Materials Engineering, 2023
Evelina P. Domashevskaya, Sergey A. Ivkov, Pavel V. Seredin, Dmitry L. Goloshchapov, Konstantin A. Barkov, Stanislav V. Ryabtsev, Yrii G. Segal, Alexander V. Sitnikov, Elena A. Ganshina, “Nonlinear Electromagnetic Properties of Thinfilm Nanocomposites (CoFeZr)x(MgF2)100-x”, Magnetochemistry, 9:6 (2023), 160
I. A. Surazhevsky, V. V. Rylkov, V. A. Demin, “Compact Behavioral Model of a Nanocomposit Memristor”, J. Commun. Technol. Electron., 68:11 (2023), 1365
M. N. Koryazhkina, D. O. Filatov, S. V. Tikhov, A. I. Belov, D. S. Korolev, A. V. Kruglov, R. N. Kryukov, S. Yu. Zubkov, V. A. Vorontsov, D. A. Pavlov, D. I. Tetelbaum, A. N. Mikhaylov, S. Kim, “Electrical Properties of Silicon-Nitride-Based Memristors on Silicon-on-Insulator Substrate”, Nanotechnol Russia, 17:6 (2022), 866
Maria N. Koryazhkina, Dmitry O. Filatov, Stanislav V. Tikhov, Alexey I. Belov, Dmitry S. Korolev, Alexander V. Kruglov, Ruslan N. Kryukov, Sergey Yu. Zubkov, Vladislav A. Vorontsov, Dmitry A. Pavlov, David I. Tetelbaum, Alexey N. Mikhaylov, Sergey A. Shchanikov, Sungjun Kim, Bernardo Spagnolo, “Silicon-Compatible Memristive Devices Tailored by Laser and Thermal Treatments”, JLPEA, 12:1 (2022), 14
M. N. Koryazhkina, D. O. Filatov, S. V. Tikhov, A. I. Belov, D. S. Korolev, A. V. Kruglov, R. N. Kryukov, S. Yu. Zubkov, V. A. Vorontsov, D. A. Pavlov, D. I. Tetelbaum, A. N. Mikhaylov, S. Kim, “Electrical Properties of Silicon-Oxide-Based Memristors on Silicon-on-Insulator Substrates”, Nanotechnol Russia, 16:6 (2021), 745