Физика твердого тела
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Правила для авторов

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS



Физика твердого тела:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти






Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация


Физика твердого тела, 2021, том 63, выпуск 4, страницы 483–498
DOI: https://doi.org/10.21883/FTT.2021.04.50713.246
(Mi ftt8148)
 

Эта публикация цитируется в 7 научных статьях (всего в 7 статьях)

Полупроводники

Новый сценарий кинетики зарядки диэлектриков при облучении электронами средних энергий

Э. И. Рау, А. А. Татаринцев

Московский государственный университет имени М. В. Ломоносова, Москва, Россия
Аннотация: На основе критического анализа предшествующих работ по исследованию механизмов зарядки диэлектрических мишеней под воздействием инжекции электронных пучков средних энергий (1–30 keV) выявлено значительное число противоречивых данных в моделях зарядки, как теоретических, так и экспериментальных. Проведена ревизия и упорядочены причинно-следственные связи физического явления зарядки с целью устранения возникших противоречий в трактовке процессов электронной зарядки диэлектриков. После обширных экспериментальных исследований широкого класса диэлектриков установлены общие закономерности кинетики зарядки диэлектрических мишеней в зависимости от количества исходных и радиационно-индуцированных ловушек, плотности тока облучающих электронов $j_{0}$ и их энергии $E_{0}$. Показано, что вторично-эмиссионные свойства заряженного диэлектрика кардинально отличаются от незаряженного, а коэффициент эмиссии электронов $\sigma$ в зависимости от $E_{0}$ не является единственно определяющим фактором положительной или отрицательной зарядки. В рассмотрении процессов зарядки впервые включены первичные термализованные электроны, существенно меняющие общую картину зарядки, а также показана ключевая роль в кинетике зарядки плотности образующихся радиационных дефектов. В предложенной модели решающим стабилизирующим эффектом наступления равновесного состояния зарядки является генерируемое при облучении внутреннее электрическое поле $F_{\operatorname{dip}}$ между положительно и отрицательно заряженными слоями в приповерхностной области диэлектрика. Главной движущей силой саморегулирующегося самосогласующегося процесса зарядки диэлектриков при электронном облучении выступает не только коэффициент эмиссии электронов, как общепринято считалось ранее, а формирование электрического поля дипольного слоя зарядов. Это критическое регулирующее поле F$_{\operatorname{cr}}$ порядка 0.5 MV/cm приблизительно одинаково для всех диэлектриков при любых значениях E$_{0}$.
Ключевые слова: зарядка диэлектриков, радиационное дефектообразование, равновесное состояние зарядки, вторичная электронная эмиссия.
Финансовая поддержка Номер гранта
Российский фонд фундаментальных исследований 18-02-00813
Работа выполнена при поддержке гранта РФФИ № 18-02-00813.
Поступила в редакцию: 25.11.2020
Исправленный вариант: 25.11.2020
Принята в печать: 25.11.2020
Англоязычная версия:
Physics of the Solid State, 2021, Volume 63, Issue 4, Pages 628–643
DOI: https://doi.org/10.1134/S1063783421040181
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
Образец цитирования: Э. И. Рау, А. А. Татаринцев, “Новый сценарий кинетики зарядки диэлектриков при облучении электронами средних энергий”, Физика твердого тела, 63:4 (2021), 483–498; Phys. Solid State, 63:4 (2021), 628–643
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{RauTat21}
\by Э.~И.~Рау, А.~А.~Татаринцев
\paper Новый сценарий кинетики зарядки диэлектриков при облучении электронами средних энергий
\jour Физика твердого тела
\yr 2021
\vol 63
\issue 4
\pages 483--498
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/ftt8148}
\crossref{https://doi.org/10.21883/FTT.2021.04.50713.246}
\elib{https://elibrary.ru/item.asp?id=46345493}
\transl
\jour Phys. Solid State
\yr 2021
\vol 63
\issue 4
\pages 628--643
\crossref{https://doi.org/10.1134/S1063783421040181}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/ftt8148
  • https://www.mathnet.ru/rus/ftt/v63/i4/p483
  • Эта публикация цитируется в следующих 7 статьяx:
    Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    Физика твердого тела Физика твердого тела
    Статистика просмотров:
    Страница аннотации:87
    PDF полного текста:59
     
      Обратная связь:
     Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2024