Физика твердого тела
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Правила для авторов

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS



Физика твердого тела:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти






Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация


Физика твердого тела, 2021, том 63, выпуск 6, страницы 776–782
DOI: https://doi.org/10.21883/FTT.2021.06.50939.035
(Mi ftt8117)
 

Эта публикация цитируется в 1 научной статье (всего в 1 статье)

Сегнетоэлектричество

Диэлектрические и сегнетоэлектрические свойства тонких гетероэпитаксиальных пленок SBN-50

А. В. Павленкоab, Д. А. Киселевc, Я. Ю. Матяшa

a Федеральный исследовательский центр Южный научный центр РАН, Ростов-на-Дону, Россия
b Научно-исследовательский институт физики Южного федерального университета, Ростов-на-Дону, Россия
c Национальный исследовательский технологический университет "МИСиС", Москва, Россия
Аннотация: С использованием методов диэлектрической спектроскопии и сканирующей зондовой микроскопии (в режимах силовой микроскопии пьезоотклика и Кельвин моды) проведены исследования фазовых превращений и сегнетоэлектрических характеристик тонких пленок ниобата бария-стронция SBN-50, выращенных методом ВЧ-катодного распыления в атмосфере кислорода. Показано, что пленки характеризуются низкой шероховатостью поверхности, средним размером сегнетоэлектрических доменов $\sim$ 100 nm и самопроизвольной поляризацией, направленной от подложки к поверхности пленки. Установлены различия в величине сигнала поверхностного потенциала и его релаксация для областей, заполяризованных внешним полем различной полярности (+10 и -10 V). Характер изменения диэлектрических параметров в интервале температур $T$ = 275–500 K свидетельствует о принадлежности материала к сегнетоэлектрикам-релаксорам. Обсуждаются причины установленных закономерностей.
Ключевые слова: тонкие пленки, ниобат бария-стронция, сканирующая зондовая микроскопия.
Финансовая поддержка Номер гранта
Министерство образования и науки Российской Федерации 01201354247
МК-678.2020.2
0718-2020-0031
Работа выполнена в рамках реализации государственного задания ЮНЦ РАН (тема госрегистрации № 01201354247) и гранта Президента РФ № МК-678.2020.2. Исследования методами СЗМ выполнены на оборудовании ЦКП “Материаловедение и металлургия” НИТУ “МИСиС” и при финансовой поддержке Министерства науки и высшего образования РФ в рамках государственного задания (проект № 0718-2020-0031).
Поступила в редакцию: 22.02.2021
Исправленный вариант: 22.02.2021
Принята в печать: 24.02.2021
Англоязычная версия:
Physics of the Solid State, 2021, Volume 63, Issue 6, Pages 881–887
DOI: https://doi.org/10.1134/S1063783421060160
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
Образец цитирования: А. В. Павленко, Д. А. Киселев, Я. Ю. Матяш, “Диэлектрические и сегнетоэлектрические свойства тонких гетероэпитаксиальных пленок SBN-50”, Физика твердого тела, 63:6 (2021), 776–782; Phys. Solid State, 63:6 (2021), 881–887
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{PavKisMat21}
\by А.~В.~Павленко, Д.~А.~Киселев, Я.~Ю.~Матяш
\paper Диэлектрические и сегнетоэлектрические свойства тонких гетероэпитаксиальных пленок SBN-50
\jour Физика твердого тела
\yr 2021
\vol 63
\issue 6
\pages 776--782
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/ftt8117}
\crossref{https://doi.org/10.21883/FTT.2021.06.50939.035}
\elib{https://elibrary.ru/item.asp?id=46349247}
\transl
\jour Phys. Solid State
\yr 2021
\vol 63
\issue 6
\pages 881--887
\crossref{https://doi.org/10.1134/S1063783421060160}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/ftt8117
  • https://www.mathnet.ru/rus/ftt/v63/i6/p776
  • Эта публикация цитируется в следующих 1 статьяx:
    Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    Физика твердого тела Физика твердого тела
    Статистика просмотров:
    Страница аннотации:83
    PDF полного текста:43
     
      Обратная связь:
     Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2024