Об атермической компоненте предела текучести кристаллов LiF в области низких температур

Анализ результатов изучения температурных зависимостей предела текучести и глубины релаксации напряжений, а также подвижности индивидуальных винтовых дислокаций в кристаллах LiF в интервале температур 1.6$-$300 K приводит к выводу, что внутренние (атермические) напряжения, влияющие на расширение отдельных дислокационных петель и характер макроскопической деформации в целом, определяются структурой дислокационных линий, а именно наличием на них высоких атермических ступенек. Предполагается, что плотность таких ступенек может изменяться с напряжением и температурой, определяя таким образом температурную зависимость кажущегося внутреннего напряжения. Оценки показывают, что термическая и атермическая компоненты предела текучести сопоставимы по величине во всем интервале температур.