Накопительные процессы в механизме электрического разрушения керамик

Измерялось распределение по времени ожидания пробоя (долговечности $\tau$) в постоянном электрическом поле при комнатной температуре титаносодержащих керамик ${T= 8000}$ и BC-1. Конструкция образцов (плоские конденсаторы с толщиной диэлектрического слоя 70 мкм) исключала поверхностные разряды и краевые эффекты. Сравнивались результаты непрерывных опытов и опытов с прерыванием действия поля на образцах, оставшихся непробитыми после выдержки в течение времени, равному среднему значению $\lg\tau$. В перерывах варьировались: продолжительность перерыва, температура ($T$), напряжение поля противоположного знака ($E_{\text{пп}}$), в зависимости от чего наблюдалась различная степень регенерации электропрочностных свойств керамик. По степени регенерации находилось время релаксации ($\tau_{\text{р}}$) изменений в керамиках, ведущих к пробою. По зависимостям $\tau_{\text{р}}(E_{\text{пп}}T$) установлено, что регенерация заключается в освобождении электронов из ловушек (глубиной 1.1$-$1.2 эВ) по механизму Френкеля–Пула. Таким образом, процессом, ведущим к пробою керамик, является накопление инжектированных из электродов электронов в ловушках вблизи межфазных границ.