Неоднородное уширение бесфононной линии примесного центра при различных условиях пластической деформации кристаллов CaF$_{2}$ : Eu

Исследовано неоднородное уширение бесфононной линии 24 213 см$^{-1}$ иона Eu$^{2+}$ в кристаллах CaF$_{2}$, подвергнутых пластической деформации путем одноосного сжатия и 4-опорного изгиба. Обнаружено, что эти два вида деформирования, отличающиеся распределением сдвигов и однородностью деформации из-за различных способов нагружения, приводят к качественно различной картине уширения линии как по форме последней, так и по распределению полуширин по образцу. Высказано предположение, что указанные различия связаны с разной вероятностью возникновения в процессе деформации точечных дефектов, которые, как следует из настоящей работы, образуются в кристаллах флюорита преимущественно путем пересечения дислокаций при действии нескольких систем скольжения.