|
Физика твердого тела, 1984, том 26, выпуск 12, страницы 3611–3617
(Mi ftt3378)
|
|
|
|
Измерение особенностей в оптическом поглощении тонких полупроводниковых пленок
Н. А. Бабаев, В. С. Багаев, Б. Д. Копыловский, А. Г. Поярков, Н. Н. Салащенко, В. Б. Стопачинский Физический институт им. П. Н. Лебедева АН СССР, г. Москва
Аннотация:
С помощью новой дифференциальной методики изучены спектры поглощения тонких монокристаллических пленок CdTe при низких температурах в области экситонных переходов. Полученные экспериментальные данные объясняются размерным квантованием энергетических зон электронов и дырок. Показано, что данные оптических измерений позволяют качественно судить о совершенстве кристаллической структуры тонких полупроводниковых пленок.
Поступила в редакцию: 20.06.1984
Образец цитирования:
Н. А. Бабаев, В. С. Багаев, Б. Д. Копыловский, А. Г. Поярков, Н. Н. Салащенко, В. Б. Стопачинский, “Измерение особенностей в оптическом поглощении тонких полупроводниковых пленок”, Физика твердого тела, 26:12 (1984), 3611–3617
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/ftt3378 https://www.mathnet.ru/rus/ftt/v26/i12/p3611
|
|