Фотоупругий вклад в фоторефрактивный эффект в кубических кристаллах

Исследована анизотропия фоторефрактивного эффекта с учетом фотоупругого вклада в кубических кристаллах типа силикосилленита (Bi$_{12}$SiO$_{20}$, Bi$_{12}$GeO$_{20}$, Bi$_{12}$TiO$_{20}$) и в GaAs. Показано, что максимум эффективности самодифракции на динамических голограммах в этих кристаллах имеют место при ориентации вектора решетки в плоскости (110) под углом ${\theta=20\div60^{\circ}}$ к направлению [$1{\bar1}0$]. Из сопоставления экспериментальных результатов с расчетными определены фотоупругие постоянные $p^{E}_{44}$, $p_{11}$, ${p_{12}+p_{13}}$ кристалла Bi$_{12}$TiO$_{20}$.