О полных проверяющих тестах для квазибесповторных контактных схем

При эксплуатации сложных логических схем особую важность приобретает вопрос о контроле работы этих устройств, о способах отыскания повреждений в них. Для контроля логических устройств важное значение имеет построение минимальных тестов, при помощи которых можно не только определить, исправна или нет схема, но и указать вид и место возникшей неисправности. Однако во многих случаях практическое построение тестовых процедур является весьма трудоемким. В настоящей статье рассмотрены отдельные классы схем, для которых построение тестов упрощается в связи с особенностями схемы.
Работа выполнена при поддержке Грантового центра по исследованиям в области математики при Новосибирском государственном университете (проект “Математические вопросы синтеза надежных и легкотестируемых схем”).