|
Эта публикация цитируется в 3 научных статьях (всего в 3 статьях)
Короткие полные диагностические тесты для схем с двумя дополнительными входами в одном базисе
К. А. Попков ИПМ им. М.В. Келдыша РАН
Аннотация:
Доказано, что любую булеву функцию от $n$ переменных можно смоделировать тестопригодной схемой из функциональных элементов с двумя дополнительными входами в базисе «конъюнкция, косая конъюнкция, дизъюнкция, отрицание», допускающей полный диагностический тест длины не более $2n+3$ относительно константных неисправностей типа $1$ на выходах элементов.
Ключевые слова:
схема из функциональных элементов, константная неисправность, полный диагностический тест, булева функция.
Статья поступила: 28.02.2022
Образец цитирования:
К. А. Попков, “Короткие полные диагностические тесты для схем с двумя дополнительными входами в одном базисе”, Дискрет. матем., 34:2 (2022), 67–82; Discrete Math. Appl., 33:4 (2023), 219–230
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/dm1702https://doi.org/10.4213/dm1702 https://www.mathnet.ru/rus/dm/v34/i2/p67
|
Статистика просмотров: |
Страница аннотации: | 216 | PDF полного текста: | 32 | Список литературы: | 66 | Первая страница: | 9 |
|