Оценки функций Шеннона длин тестов замыкания для контактных схем

Рассматривается задача синтеза неизбыточных двухполюсных контактных схем, реализующих булевы функции от $n$ переменных и допускающих короткие проверяющие либо диагностические тесты относительно замыканий не более $k$ контактов. Доказано, что функция Шеннона длины проверяющего теста равна $n$ для любых $n$ и $k$, а функция Шеннона длины диагностического теста при $n\geqslant 2$ не превосходит $n+k(n-2)$.