|
Эта публикация цитируется в 10 научных статьях (всего в 11 статьях)
Нижние оценки длин единичных тестов для схем из функциональных элементов
К. А. Попков ИПМ им. М.В.Келдыша РАН
Аннотация:
Получены нетривиальные нижние оценки длин минимальных единичных проверяющих и диагностических тестов для схем из функциональных элементов в широких классах базисов при однотипных и произвольных константных неисправностях на выходах элементов.
Ключевые слова:
схема из функциональных элементов, константная неисправность, единичный проверяющий тест, единичный диагностический тест.
Статья поступила: 16.09.2016
Образец цитирования:
К. А. Попков, “Нижние оценки длин единичных тестов для схем из функциональных элементов”, Дискрет. матем., 29:2 (2017), 53–69; Discrete Math. Appl., 29:1 (2019), 23–33
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/dm1429https://doi.org/10.4213/dm1429 https://www.mathnet.ru/rus/dm/v29/i2/p53
|
Статистика просмотров: |
Страница аннотации: | 425 | PDF полного текста: | 90 | Список литературы: | 65 | Первая страница: | 34 |
|