Методы расчета нестабильности нулевого уровня электронных схем при вариации параметров и внешних воздействий

Одним из важнейших этапов проектирования электронных схем различного класса и назначения является расчет нестабильности нулевого уровня разрабатываемого устройства под влиянием на параметры его компонентов внешних воздействий (изменение температуры, влажность, давление, радиация и т.д.), а также технологического разброса параметров при серийном изготовлении компонентов и всего устройства. Рассматривается построение математического описания задачи расчета нестабильности нулевого уровня электронных схем для распространенного случая, когда координаты рабочих точек всех компонентов схемы известны и требуется найти их отклонения при вариации параметров компонентов схемы под влиянием внешних воздействий, а также технологического разброса параметров компонентов при их изготовлении. Достоинством предлагаемой методики является возможность исключить необходимость многократного расчета нелинейной схемы и ее чувствительности к вариации параметров и перейти к рассмотрению математического описания линеаризованной схемы для отклонений переменных от начального стационарного значения. При этом резко уменьшается объем вычислительных операций и снижается время решения, что особенно важно при решении оптимизационных задач проектирования электронных схем.