Доклады Академии наук
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS


Докл. РАН:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти




Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация

Доклады Академии наук, 1990, том 311, номер 4, страницы 859–861 (Mi dan50169)  
МАТЕМАТИЧЕСКАЯ ФИЗИКА

Вычислительная томография слоистых изделий электроники

А. Н. Тихонов, А. В. Гончарский, А. Н. Матвиенко, Ю. М. Платонов, Д. О. Савин

Московский государственный университет имени М. В. Ломоносова
PDF полного текста (754 kB)
Поступило: 28.04.1989
Тип публикации: Статья
УДК: 518.5
Образец цитирования: А. Н. Тихонов, А. В. Гончарский, А. Н. Матвиенко, Ю. М. Платонов, Д. О. Савин, “Вычислительная томография слоистых изделий электроники”, Докл. АН СССР, 311:4 (1990), 859–861
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{TikGonMat90}
\by А.~Н.~Тихонов, А.~В.~Гончарский, А.~Н.~Матвиенко, Ю.~М.~Платонов, Д.~О.~Савин
\paper Вычислительная томография слоистых изделий электроники
\jour Докл. АН СССР
\yr 1990
\vol 311
\issue 4
\pages 859--861
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/dan50169}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/dan50169
  • https://www.mathnet.ru/rus/dan/v311/i4/p859
    • Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    Статистика просмотров:
    Страница аннотации:92
    PDF полного текста:44
    Список литературы:1
     
      Обратная связь:
    		  Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2024