|
Доклады Академии наук, 1986, том 289, номер 2, страницы 355–358
(Mi dan47596)
|
|
|
|
КРИСТАЛЛОГРАФИЯ
Электронная микроскопия высокого разрешения тонких пленок сверхпроводящего соединения
$\mathrm{PbMo}_6\mathrm{S}_8$
А. Л. Васильевabc, О. В. Уваровabc, М. А. Гребенюкabc, Н. А. Киселевabc, М. О. Рикельabc, Е. А. Ильичевabc, В. И. Цеброabc a Институт кристаллографии им. A.B. Шубникова АН СССР, г. Москва
b Физический институт им. П. Н. Лебедева АН СССР, г. Москва
c Институт металлургии им. А. А. Байкова АН СССР, г. Москва
Поступило: 28.03.1986
Образец цитирования:
А. Л. Васильев, О. В. Уваров, М. А. Гребенюк, Н. А. Киселев, М. О. Рикель, Е. А. Ильичев, В. И. Цебро, “Электронная микроскопия высокого разрешения тонких пленок сверхпроводящего соединения
$\mathrm{PbMo}_6\mathrm{S}_8$”, Докл. АН СССР, 289:2 (1986), 355–358
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/dan47596 https://www.mathnet.ru/rus/dan/v289/i2/p355
|
Статистика просмотров: |
Страница аннотации: | 98 | PDF полного текста: | 35 |
|