Доклады Академии наук
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS


Докл. РАН:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти




Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация

Доклады Академии наук, 1985, том 282, номер 3, страницы 608–611 (Mi dan47026)  
КРИСТАЛЛОГРАФИЯ

Возможности исследования упругих полей микродефектов методами рентгеновской топографии

В. Л. Инденбом, В. М. Каганер

Институт кристаллографии им. А.В. Шубникова АН СССР, г. Москва
PDF полного текста (753 kB)
Статья представлена к публикации: Б. К. Вайнштейн
Поступило: 29.05.1984
Тип публикации: Статья
УДК: 548.732
Образец цитирования: В. Л. Инденбом, В. М. Каганер, “Возможности исследования упругих полей микродефектов методами рентгеновской топографии”, Докл. АН СССР, 282:3 (1985), 608–611
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{IndKag85}
\by В.~Л.~Инденбом, В.~М.~Каганер
\paper Возможности исследования упругих полей микродефектов методами рентгеновской топографии
\jour Докл. АН СССР
\yr 1985
\vol 282
\issue 3
\pages 608--611
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/dan47026}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/dan47026
  • https://www.mathnet.ru/rus/dan/v282/i3/p608
    • Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    Статистика просмотров:
    Страница аннотации:91
    PDF полного текста:25
     
      Обратная связь:
    		  Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2024