Доклады Академии наук
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS


Докл. РАН:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти




Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация

Доклады Академии наук, 1984, том 278, номер 6, страницы 1371–1375 (Mi dan46760)  
КРИСТАЛЛОГРАФИЯ

Роль принципов объемного соответствия в формировании границы раздела $\mathrm{Si}/\mathrm{SiO}_2$

А. В. Емельянов, B. B. Егоркин, Э. П. Бочкарев
PDF полного текста (656 kB)
Поступило: 14.05.1984
Тип публикации: Статья
УДК: 537.311.33
Образец цитирования: А. В. Емельянов, B. B. Егоркин, Э. П. Бочкарев, “Роль принципов объемного соответствия в формировании границы раздела $\mathrm{Si}/\mathrm{SiO}_2$”, Докл. АН СССР, 278:6 (1984), 1371–1375
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{EmeEgoBoc84}
\by А.~В.~Емельянов, B.~B.~Егоркин, Э.~П.~Бочкарев
\paper Роль принципов объемного соответствия в формировании границы раздела $\mathrm{Si}/\mathrm{SiO}_2$
\jour Докл. АН СССР
\yr 1984
\vol 278
\issue 6
\pages 1371--1375
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/dan46760}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/dan46760
  • https://www.mathnet.ru/rus/dan/v278/i6/p1371
    • Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    Статистика просмотров:
    Страница аннотации:91
    PDF полного текста:43
     
      Обратная связь:
    		  Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2024