Доклады Академии наук
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS


Докл. РАН:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти




Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация

Доклады Академии наук, 1983, том 271, номер 5, страницы 1130–1133 (Mi dan46235)  
КРИСТАЛЛОГРАФИЯ

Определение коэффициентов представления одноэлектронной матрицы плотности кристалла из рентгеновских дифракционных данных

Ю. В. Александров, В. Г. Цирельсон, Р. П. Озеров

Московский химико-технологический институт им. Д. И. Менделеева
PDF полного текста (596 kB)
Статья представлена к публикации: Н. В. Белов
Поступило: 28.12.1981
Тип публикации: Статья
УДК: 539.261+541:530.145.6
Образец цитирования: Ю. В. Александров, В. Г. Цирельсон, Р. П. Озеров, “Определение коэффициентов представления одноэлектронной матрицы плотности кристалла из рентгеновских дифракционных данных”, Докл. АН СССР, 271:5 (1983), 1130–1133
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{AleTsiOze83}
\by Ю.~В.~Александров, В.~Г.~Цирельсон, Р.~П.~Озеров
\paper Определение коэффициентов представления одноэлектронной матрицы плотности кристалла из рентгеновских дифракционных данных
\jour Докл. АН СССР
\yr 1983
\vol 271
\issue 5
\pages 1130--1133
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/dan46235}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/dan46235
  • https://www.mathnet.ru/rus/dan/v271/i5/p1130
    • Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    Статистика просмотров:
    Страница аннотации:116
    PDF полного текста:44
     
      Обратная связь:
    		  Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2024