Доклады Академии наук
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS


Докл. РАН:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти




Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация

Доклады Академии наук, 1964, том 156, номер 6, страницы 1339–1340 (Mi dan29763)  
КРИСТАЛЛОГРАФИЯ

Измерение изгиба кристаллических лент, вызываемого осевыми дислокациями, методами дифракционной электронной микроскопии

В. Н. Рожанский, Г. В. Бережкова

Институт кристаллографии АН СССР, г. Москва
PDF полного текста (631 kB)
Статья представлена к публикации: А. В. Шубников
Поступило: 19.02.1964
Тип публикации: Статья
Образец цитирования: В. Н. Рожанский, Г. В. Бережкова, “Измерение изгиба кристаллических лент, вызываемого осевыми дислокациями, методами дифракционной электронной микроскопии”, Докл. АН СССР, 156:6 (1964), 1339–1340
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{RozBer64}
\by В.~Н.~Рожанский, Г.~В.~Бережкова
\paper Измерение изгиба кристаллических лент, вызываемого осевыми дислокациями, методами дифракционной электронной
микроскопии
\jour Докл. АН СССР
\yr 1964
\vol 156
\issue 6
\pages 1339--1340
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/dan29763}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/dan29763
  • https://www.mathnet.ru/rus/dan/v156/i6/p1339
    • Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    Статистика просмотров:
    Страница аннотации:96
    PDF полного текста:47
     
      Обратная связь:
    		  Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2024