Дискретный анализ и исследование операций
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Импакт-фактор
Правила для авторов

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS



Дискретн. анализ и исслед. опер.:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти






Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация


Дискретный анализ и исследование операций, 2019, том 26, выпуск 1, страницы 89–113
DOI: https://doi.org/10.33048/daio.2019.26.623
(Mi da919)
 

Эта публикация цитируется в 4 научных статьях (всего в 4 статьях)

Короткие полные проверяющие тесты для схем из двухвходовых функциональных элементов

К. А. Попков

Институт прикладной математики им. М.В. Келдыша РАН, Миусская пл., 4, 125047 Москва, Россия
Список литературы:
Аннотация: Установлено, что почти любую булеву функцию от $n$ переменных можно реализовать схемой из функциональных элементов в базисе $\{x\,\&\,y,x\vee y,x\oplus y,1\}$, допускающей полный проверяющий тест длины не более $4$ относительно произвольных константных неисправностей на выходах элементов. Доказаны также следующие утверждения: любую булеву функцию от $n$ переменных можно реализовать схемой из функциональных элементов в базисе $\{x\,\&\,y,x\vee y,x\oplus y,1\}$ (в базисе $\{x\,\&\,y,x\vee y,x\vee\overline y,x\oplus y\}$), содержащей не более одной фиктивной входной переменной и допускающей полный проверяющий тест длины не более $5$ (соответственно не более $4$) относительно неисправностей такого же типа. Ил. 2, библиогр. 24.
Ключевые слова: схема из функциональных элементов, произвольная константная неисправность, полный проверяющий тест.
Финансовая поддержка Номер гранта
Российский научный фонд 14-21-00025 П
Работа выполнена при поддержке гранта Российского научного фонда (проект № 14–21–00025 П).
Статья поступила: 16.07.2018
Переработанный вариант: 02.08.2018
Принята к публикации: 28.11.2018
Англоязычная версия:
Journal of Applied and Industrial Mathematics, 2019, Volume 13, Issue 1, Pages 118–131
DOI: https://doi.org/10.1134/S1990478919010137
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
УДК: 519.718.7
Образец цитирования: К. А. Попков, “Короткие полные проверяющие тесты для схем из двухвходовых функциональных элементов”, Дискретн. анализ и исслед. опер., 26:1 (2019), 89–113; J. Appl. Industr. Math., 13:1 (2019), 118–131
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{Pop19}
\by К.~А.~Попков
\paper Короткие полные проверяющие тесты для схем из двухвходовых функциональных элементов
\jour Дискретн. анализ и исслед. опер.
\yr 2019
\vol 26
\issue 1
\pages 89--113
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/da919}
\crossref{https://doi.org/10.33048/daio.2019.26.623}
\transl
\jour J. Appl. Industr. Math.
\yr 2019
\vol 13
\issue 1
\pages 118--131
\crossref{https://doi.org/10.1134/S1990478919010137}
\scopus{https://www.scopus.com/record/display.url?origin=inward&eid=2-s2.0-85064804803}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/da919
  • https://www.mathnet.ru/rus/da/v26/i1/p89
  • Эта публикация цитируется в следующих 4 статьяx:
    Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    Дискретный анализ и исследование операций
    Статистика просмотров:
    Страница аннотации:251
    PDF полного текста:81
    Список литературы:35
    Первая страница:8
     
      Обратная связь:
     Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2024