|
Эта публикация цитируется в 4 научных статьях (всего в 4 статьях)
О точном значении длины минимального единичного диагностического теста для одного класса схем
К. А. Попков Институт прикладной математики им. М. В. Келдыша РАН,
Миусская пл., 4, 125047 Москва, Россия
Аннотация:
Рассматривается задача синтеза неизбыточных схем из функциональных элементов в базисе
$\{\mathbin{\&},\vee,\neg\}$, реализующих булевы функции от $n$ переменных и допускающих короткие единичные
диагностические тесты относительно однотипных константных неисправностей на выходах элементов.
Для каждой булевой функции, допускающей реализацию неизбыточной схемой, найдено минимально возможное
значение длины такого теста. В частности, доказано, что оно не превосходит двух.
Ил. 3, библиогр. 27.
Ключевые слова:
схема из функциональных элементов, неисправность, единичный диагностический тест.
Статья поступила: 08.06.2016 Переработанный вариант: 27.02.2017
Образец цитирования:
К. А. Попков, “О точном значении длины минимального единичного диагностического теста для одного класса схем”, Дискретн. анализ и исслед. опер., 24:3 (2017), 80–103; J. Appl. Industr. Math., 11:3 (2017), 431–443
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/da876 https://www.mathnet.ru/rus/da/v24/i3/p80
|
Статистика просмотров: |
Страница аннотации: | 229 | PDF полного текста: | 112 | Список литературы: | 43 | Первая страница: | 6 |
|