Дискретный анализ и исследование операций
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Импакт-фактор
Правила для авторов

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS



Дискретн. анализ и исслед. опер.:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти






Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация


Дискретный анализ и исследование операций, 2017, том 24, выпуск 3, страницы 80–103
DOI: https://doi.org/10.17377/daio.2017.24.546
(Mi da876)
 

Эта публикация цитируется в 4 научных статьях (всего в 4 статьях)

О точном значении длины минимального единичного диагностического теста для одного класса схем

К. А. Попков

Институт прикладной математики им. М. В. Келдыша РАН, Миусская пл., 4, 125047 Москва, Россия
Список литературы:
Аннотация: Рассматривается задача синтеза неизбыточных схем из функциональных элементов в базисе $\{\mathbin{\&},\vee,\neg\}$, реализующих булевы функции от $n$ переменных и допускающих короткие единичные диагностические тесты относительно однотипных константных неисправностей на выходах элементов. Для каждой булевой функции, допускающей реализацию неизбыточной схемой, найдено минимально возможное значение длины такого теста. В частности, доказано, что оно не превосходит двух. Ил. 3, библиогр. 27.
Ключевые слова: схема из функциональных элементов, неисправность, единичный диагностический тест.
Финансовая поддержка Номер гранта
Российский фонд фундаментальных исследований 14-01-00598_а
Российская академия наук - Федеральное агентство научных организаций
Исследование выполнено при поддержке Российского фонда фундаментальных исследований (проект 14–01–00598) и программы фундаментальных исследований ОМН РАН «Алгебраические и комбинаторные методы математической кибернетики и информационные системы нового поколения» (проект «Задачи оптимального синтеза управляющих систем»).
Статья поступила: 08.06.2016
Переработанный вариант: 27.02.2017
Англоязычная версия:
Journal of Applied and Industrial Mathematics, 2017, Volume 11, Issue 3, Pages 431–443
DOI: https://doi.org/10.1134/S1990478917030140
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
УДК: 519.718.7
Образец цитирования: К. А. Попков, “О точном значении длины минимального единичного диагностического теста для одного класса схем”, Дискретн. анализ и исслед. опер., 24:3 (2017), 80–103; J. Appl. Industr. Math., 11:3 (2017), 431–443
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{Pop17}
\by К.~А.~Попков
\paper О точном значении длины минимального единичного диагностического теста для одного класса схем
\jour Дискретн. анализ и исслед. опер.
\yr 2017
\vol 24
\issue 3
\pages 80--103
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/da876}
\crossref{https://doi.org/10.17377/daio.2017.24.546}
\elib{https://elibrary.ru/item.asp?id=29869484}
\transl
\jour J. Appl. Industr. Math.
\yr 2017
\vol 11
\issue 3
\pages 431--443
\crossref{https://doi.org/10.1134/S1990478917030140}
\scopus{https://www.scopus.com/record/display.url?origin=inward&eid=2-s2.0-85028539308}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/da876
  • https://www.mathnet.ru/rus/da/v24/i3/p80
  • Эта публикация цитируется в следующих 4 статьяx:
    Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    Дискретный анализ и исследование операций
    Статистика просмотров:
    Страница аннотации:229
    PDF полного текста:112
    Список литературы:43
    Первая страница:6
     
      Обратная связь:
     Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2024