Дискретный анализ и исследование операций
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Импакт-фактор
Правила для авторов

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS


Дискретн. анализ и исслед. опер.:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти




Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация

Дискретный анализ и исследование операций, 2017, том 24, выпуск 3, страницы 80–103
DOI: https://doi.org/10.17377/daio.2017.24.546 (Mi da876) 		 
Эта публикация цитируется в 4 научных статьях (всего в 4 статьях)

О точном значении длины минимального единичного диагностического теста для одного класса схем

К. А. Попков

Институт прикладной математики им. М. В. Келдыша РАН, Миусская пл., 4, 125047 Москва, Россия
PDF полного текста (393 kB) Список цитирования (4)
Список литературы:
PDF
HTML
DOI: https://doi.org/10.17377/daio.2017.24.546
Аннотация: Рассматривается задача синтеза неизбыточных схем из функциональных элементов в базисе $\{\mathbin{\&},\vee,\neg\}$, реализующих булевы функции от $n$ переменных и допускающих короткие единичные диагностические тесты относительно однотипных константных неисправностей на выходах элементов. Для каждой булевой функции, допускающей реализацию неизбыточной схемой, найдено минимально возможное значение длины такого теста. В частности, доказано, что оно не превосходит двух. Ил. 3, библиогр. 27.
Ключевые слова: схема из функциональных элементов, неисправность, единичный диагностический тест.
Финансовая поддержка Номер гранта
Российский фонд фундаментальных исследований 14-01-00598_а
Российская академия наук - Федеральное агентство научных организаций
Исследование выполнено при поддержке Российского фонда фундаментальных исследований (проект 14–01–00598) и программы фундаментальных исследований ОМН РАН «Алгебраические и комбинаторные методы математической кибернетики и информационные системы нового поколения» (проект «Задачи оптимального синтеза управляющих систем»).
Статья поступила: 08.06.2016
Переработанный вариант: 27.02.2017
Англоязычная версия:
Journal of Applied and Industrial Mathematics, 2017, Volume 11, Issue 3, Pages 431–443
DOI: https://doi.org/10.1134/S1990478917030140
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
УДК: 519.718.7
Образец цитирования: К. А. Попков, “О точном значении длины минимального единичного диагностического теста для одного класса схем”, Дискретн. анализ и исслед. опер., 24:3 (2017), 80–103; J. Appl. Industr. Math., 11:3 (2017), 431–443
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{Pop17}
\by К.~А.~Попков
\paper О точном значении длины минимального единичного диагностического теста для одного класса схем
\jour Дискретн. анализ и исслед. опер.
\yr 2017
\vol 24
\issue 3
\pages 80--103
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/da876}
\crossref{https://doi.org/10.17377/daio.2017.24.546}
\elib{https://elibrary.ru/item.asp?id=29869484}
\transl
\jour J. Appl. Industr. Math.
\yr 2017
\vol 11
\issue 3
\pages 431--443
\crossref{https://doi.org/10.1134/S1990478917030140}
\scopus{https://www.scopus.com/record/display.url?origin=inward&eid=2-s2.0-85028539308}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/da876
  • https://www.mathnet.ru/rus/da/v24/i3/p80
    • Эта публикация цитируется в следующих 4 статьяx:
    Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    		Дискретный анализ и исследование операций
     
      Обратная связь:
    		  Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2024