О минимальных тестах для схем, реализующих дизъюнкцию

Исследуются тесты для схем из функциональных элементов, реализующих дизъюнкцию $n$ переменных. В качестве неисправностей рассматриваются инверсные неисправности: на входах схем, на входах элементов схем и на выходах элементов схем. В первом случае для тестов функции установлено, что длина минимального полного проверяющего теста равна единице, длина минимального единичного диагностического теста равна $n$, а длина минимального полного диагностического теста равна $2^n-1$. Во втором и третьем случаях найдены минимальные единичные тесты для схем в базисах $ \{x\vee y\}$ и $\{\overline x, x\to y\}$. Оказалось, что для обоих базисов при неисправностях на выходах элементов минимальные единичные диагностические тесты содержат по два набора, а во всех остальных случаях минимальные единичные тесты содержат по одному набору. Библ. 4.