|
МОДЕЛИ В ФИЗИКЕ И ТЕХНОЛОГИИ
Численное моделирование процессов зарядки при диагностике сегнетоэлектриков методами растровой электронной микроскопии
А. В. Сивунов, А. Г. Масловская Амурский государственный университет, Россия, 675027, г. Благовещенск, Игнатьевское шоссе, д. 21
Аннотация:
Предложен алгоритм решения прикладной задачи расчета электрических характеристик полевых эффектов инжектированных зарядов в сегнетоэлектриках при электронном облучении, основанный на реализации детерминированной модели методом конечных элементов с учетом результатов моделирования транспорта электронов методом Монте-Карло. Разработано программное приложение для проведения вычислительного эксперимента.
Ключевые слова:
математическая модель, алгоритм, сегнетоэлектрик, электронное облучение, процесс зарядки, метод конечных элементов, метод Монте-Карло.
Поступила в редакцию: 03.07.2013 Исправленный вариант: 31.01.2014
Образец цитирования:
А. В. Сивунов, А. Г. Масловская, “Численное моделирование процессов зарядки при диагностике сегнетоэлектриков методами растровой электронной микроскопии”, Компьютерные исследования и моделирование, 6:1 (2014), 107–118
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/crm307 https://www.mathnet.ru/rus/crm/v6/i1/p107
|
Статистика просмотров: |
Страница аннотации: | 80 | PDF полного текста: | 39 | Список литературы: | 12 |
|